CMOS和TTL數(shù)字集成電路檢測

CMOS和TTL數(shù)字集成電路檢測項目報價？??解決方案？??檢測周期？??樣品要求？

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GB/T 1094.16-2013電力變壓器 第16部分:風力發(fā)電用變壓器

GB 1094的本部分適用于額定容量從100 kVA~10 000 kVA的風力發(fā)電用的干式和液浸式變壓器,其設備高電壓不大于40.5 kV,且至少一個繞組的工作電壓大于1.1 kV。適用于本部分的變壓器應符合GB 1094系列標準的相關要求。

GB/T 2900.66-2004電工術語 半導體器件和集成電路

GB／T 2900的本部分界定了半導體技術、半導體設計和半導體類型的通用術語。

GB/T 3431.2-1986半導體集成電路文字符號 引出端功能符號

本標準規(guī)定了半導體集成電路（以下簡稱器件）引出端功能的文字符號。

GB/T 4301-2008船用電磁計程儀

本標準規(guī)定了船用電磁計程儀的技術要求、試驗方法和檢驗規(guī)則。本標準適用于由桿式或平面式傳感器、模擬式或數(shù)字式顯示器構成的船用電磁計程儀，適用于電磁計程儀的設計、生產(chǎn)和檢驗。

GB/T 4589.1-2006半導體器件 第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范

本規(guī)范構成電工委員會電子元器件質量評定體系（IECQ）的一部分。 本規(guī)范是半導體器件（分立器件和集成電路，包括多片集成電路，但不包括混合電路）的總規(guī)范。 本規(guī)范規(guī)定了在IECQ體系內采用的質量評定的總程序，并給出了下述方面的總原則： ——電特性測試方法； ——氣候和機械試驗； ——耐久性試驗。

GB 4706.90-2014家用和類似用途電器的安全 商用微波爐的特殊要求

GB 4706.1-2005中的該章用下述內容代替:GB 4706的本部分涉及帶有一個腔門的商用微波爐的安全。對于連接一條相線和中性線的單相器具,其額定電壓不超過250 V,其他器具不超過480 V。本部分適用于帶有一個腔門的組合型微波爐的安全,其要求包含附錄AA。本部分也適用于不帶有腔門的,食物或飲料通過運輸裝置進入爐腔加熱的商用微波爐的安全,其要求包含附錄BB。適用于附錄BB的微波爐,其微波負載應通過運輸裝置進入爐腔;附錄BB也適用于隧道式微波爐和幾種微波自動售貨機的要求。本部分也適用于打算在船上使用的微波爐,其要求包含附錄EE。本部分考慮到那些在自動售貨機清除區(qū)域里的普通人員。本部分通常不考慮如下情況:--無人照看的幼兒和殘疾人對器具的使用;--幼兒拿器具玩耍的情況。本部分考慮普通人員使用不帶腔門而帶有運輸裝置的微波爐的情況,除非這些人在該器具的人口或出口附近。

GB/T 4833.3-2008多道分析器.第3部分:核譜測量直方圖數(shù)據(jù)交換格式

本部分適用于核普測量中脈沖幅度直方圖數(shù)據(jù)的交換，而與數(shù)據(jù)來源、讀或寫數(shù)據(jù)設備以及容納數(shù)據(jù)的媒體無關。

GB/T 5965-2000半導體器件 集成電路 第2部分;數(shù)字集成電路 第一篇 雙極型單片數(shù)字集成電路門電路(不包括自由邏輯陣列) 空白詳細規(guī)范

IEC電子元器件質量評定體系遵循IEC的章程，并在IEC授權下進行工作。該體系的目的是確定質量評定程序，以這種方式使一個參加國按有關規(guī)范要求放行的電子元器件無需進一步試驗而為其他所有參加國同樣接受。 本空白詳細規(guī)范是半導體器件的一系列空白詳細規(guī)范之一，并且與下列標準一起使用。 IEC 747-10/QC 700000半導體器件第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范要求的資料。

GB/T 7146-1986袋裝銻礦石取樣、制樣方法

本標準適用于袋裝各類銻礦石的化學成分、水分、粒度樣品的揀取和制備。

GB/T 7190.2-2018機械通風冷卻塔 第2部分:大型開式冷卻塔

GB/T 7190的本部分規(guī)定了大型開式冷卻塔的產(chǎn)品分類和標記、要求、試驗方法、檢驗規(guī)則、標志、包裝、運輸、貯存及其他等。本部分適用于單塔冷卻水量不小于1 000 m<上標3>/h，裝有淋水填料的逆流、橫流機械通風開式冷卻塔。

GB/T 7287-2008紅外輻射加熱器試驗方法

本標準規(guī)定了紅外輻射加熱器（以下簡稱“加熱器”）的性能試驗方法。本標準適用于紅外輻射加熱器，其中包括金屬基體或非金屬基體的各類低溫、中溫及高溫電熱式紅外輻射加熱器。本標準說明紅外輻射加熱器的基本特性和規(guī)定試驗這些特性的方法，以供用戶參考。

GB/T 7497.1-2008微處理器系統(tǒng)總線.8位及16位數(shù)據(jù)(MULTIBUS I) 第1部分: 電氣與定時規(guī)范的功能描述

本標準適用于互連的數(shù)據(jù)處理、數(shù)據(jù)存儲和外圍控制設備等緊耦合配置的接口系統(tǒng)部件。本接口系統(tǒng)具有允許各種系統(tǒng)部件交互作用所必須的信號,它允許存儲器和I/O的數(shù)據(jù)傳送、直接存儲器存取、中斷產(chǎn)生等。本標準對構成該系統(tǒng)總線的所有要素及特性均提供詳細描述。本標準是為那些想要評價或設計與本系統(tǒng)總線結構兼容產(chǎn)品的用戶制定的。為此,本部分詳細的說明了必要的信號定義、定時以及電氣規(guī)范。本標準僅涉及微型計算機設備的接口特性,而不涉及模塊的設計規(guī)范、性能要求和安全要求。

GB/T 8059-2016家用和類似用途制冷器具

本標準規(guī)定了家用和類似用途制冷器具的術語和定義、分類、技術要求、試驗方法、檢驗規(guī)則以及標志、包裝、運輸?shù)取１緲藴蔬m用于由工廠裝配，內部采用空氣自然對流或強制對流方式進行冷卻的家用和類似用途的制冷器具(以下稱器具)。

GB/T 9178-1988集成電路術語

本標準規(guī)定了集成電路的生產(chǎn)制造、工程應用和貿(mào)易等中使用的基本術語。 本標準適用于與集成電路有關的生產(chǎn)、工程、科研、教學和貿(mào)易等。

GB/T 9424-1998半導體器件 集成電路 第2部分;數(shù)字集成電路 第五篇 CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列空白詳細規(guī)范

IEC電子元器件質量評定體系遵循IEC章程并在IEC授權下工作。該體系的目的是確定質量評定程序，以這種方式使一個參加國按有關規(guī)范要求放行的電子元器件無需進一步試驗而為其他所有參加國同樣接受。 本空白詳細規(guī)范是半導體器件的一系列空白詳細規(guī)范之一，并應與下列IEC標準一起使用。 747-10/QC700000 半導體器件 第10部分 分立器件和集成電路總規(guī)范

GB/T 9536-2012電氣和電子設備用機電開關.第1部分：總規(guī)范

本部分規(guī)定了電氣和電子設備用的機電開關。 本部分適用的開關: a)借助導電部件（觸頭）的機械運動來斷開、接通或轉換電路連接的裝置；b)大額定電壓為480V；c)大額定電流為63A。本部分不適用于供信息處理系統(tǒng)使用的鍵盤和輔助鍵盤。本部分也可適用于機電琴鍵（按鍵）開關。開關系列將在對應本總規(guī)范的詳細規(guī)范中描述。

GB/T 9542-1988程序設計語言PL/1

程序設計語言PL/1

GB/T 10072-2003照明用電子閃光裝置技術條件

1.1 本標準適用于為照相機攝影時提供主光或輔助光的外接電子閃光裝置(不含大功率影室閃光裝置)。 1.2 本標準規(guī)定了外接電子閃光裝置的術語和定義、要求、試驗方法、檢驗規(guī)則等。

GB/T 11498-2018半導體器件 集成電路 第21部分:膜集成電路和混合膜集成電路分規(guī)范(采用鑒定批準程序)

《半導體器件　集成電路》的本部分適用于作為目錄內電路或定制電路而制造的、其質量是以鑒定批準為基礎評定的膜集成電路和混合膜集成電路。本部分的目的是為額定值和特性提供優(yōu)先值，從總規(guī)范中選擇合適的試驗和測量方法，并且給出根據(jù)本部分制定的膜集成電路和混合膜集成電路詳細規(guī)范使用的通用性能要求。優(yōu)先值的概念直接應用于目錄內電路，但是不必應用于定制電路。參照本部分制定的詳細規(guī)范所規(guī)定的試驗嚴酷等級和要求可等于或高于分規(guī)范的性能水平，不準許有更低的性能水平。同本部分相聯(lián)系的有一個或多個空白詳細規(guī)范，每個空白詳細規(guī)范均給以編號。按照2.3規(guī)定填寫空白詳細規(guī)范，即構成一個詳細規(guī)范。按IECQ體系的規(guī)定，該類詳細規(guī)范可用于膜集成電路和混合膜集成電路鑒定批準的授與和質量一致性檢驗。

GB/T 11828.1-2019水位測量儀器 第1部分:浮子式水位計

GB/T 11828的本部分規(guī)定了浮子式水位計(以下簡稱“水位計”)的產(chǎn)品分類、組成、規(guī)格、結構與材料、信號與接口、顯示與記錄、技術要求、試驗方法、檢驗規(guī)則、標志和使用說明書以及包裝、運輸、貯存。本部分適用于江河、湖泊、明渠、水庫等地表水體中所應用的水位計，也適用于地下水位監(jiān)測的水位計。