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GB/T 5217的本部分方便信息技術(shù)的交流。本部分給出了與信息處理領域和相關的概念的術(shù)語和定義,并明確了詞條之間的關系。GB/T 5271的本部分定義了與模擬和混合算術(shù)單位、函數(shù)發(fā)生器、轉(zhuǎn)換器以及這些組件運行模式相關的各種概念。
GB/T 5464的本部分規(guī)定了電氣設備用圖形符號及其名稱、含義和應用范圍。本部分的圖形符號適用于以下用途:——標識設備或其組成部分(如控制器或顯示器);——指示功能狀態(tài)或功能(如開、關、告警);——標示連接(如端子、接頭);——提供包裝信息(如包裝物的標識、裝卸說明);——提供設備的操作說明(如使用限制)。本部分的圖形符號不適用于以下用途?!踩珮擞洠弧残畔?;——圖樣的簡圖;——產(chǎn)品技術(shù)文件。
本標準規(guī)定了集成電路的生產(chǎn)制造、工程應用和貿(mào)易等中使用的基本術(shù)語。 本標準適用于與集成電路有關的生產(chǎn)、工程、科研、教學和貿(mào)易等。
本標準規(guī)定了實驗室儀器和設備用圖形符號(以下簡稱圖形符號)的術(shù)語和定義、分類和用途、表示規(guī)則、設計要求、應用和標記,給出了實驗室儀器和設備常用的圖形符號的名稱、含義和應用范圍。本標準適用于實驗室儀器和設備。
本指導性技術(shù)文件給出了宇航用半導體器件(以下簡稱器件)重離子輻照引起的單粒子效應的試驗指南,包括試驗要求、試驗方法和試驗程序。本指導性技術(shù)文件適用的單粒子效應包括單粒子翻轉(zhuǎn)、單粒子鎖定、單粒子擾動等。不包括功率MOS器件的單粒子燒毀。本指導性技術(shù)文件中的半導體器件包括半導體集成電路和半導體分立器件。
本部分規(guī)定了慣性平臺對準回路的設計依據(jù)、設計原則、設計內(nèi)容、設計程序、設計方法和設計驗證試驗項目及要求等內(nèi)容。本部分適用于慣性平臺對準回路的設計。
本部分規(guī)定了慣性平臺穩(wěn)定回路的設計依據(jù)、設計原則、設計內(nèi)容、設計程序、設計方法和設計驗證試驗項目及要求等內(nèi)容。本部分適用于慣性平臺穩(wěn)定回路的設計。
本標準規(guī)定了電子產(chǎn)品的分類與代碼。電子產(chǎn)品包括:電子系統(tǒng)、雷達、導航、電子對抗、通信、廣播電視、電子計算機、電子醫(yī)療及電子儀器等設備;電阻器、電容器、電感器、接插件、印制板、開關、變壓器和繼電器等元件;電子管、半導體分立器件、半導體集成電路和微型組件等器件;以及電子材料、電子工業(yè)專用設備及行業(yè)電子產(chǎn)品等。 本標準適用于電子工業(yè)經(jīng)濟信息管理信息交換及經(jīng)濟統(tǒng)一核算,供科研、生產(chǎn)、規(guī)劃、計劃、統(tǒng)計、會計、業(yè)務等工作使用。 本標準是電子工業(yè)經(jīng)濟信息系統(tǒng)的重要基礎標準,是各電子經(jīng)濟信息系統(tǒng)進行信息交換的共同語言。
本指導性技術(shù)文件規(guī)定了軍用嵌入式計算機硬件和軟件可靠性設計方法及其具體實施途徑。本指導性技術(shù)文件適用于軍用嵌入式計算機軟、硬件產(chǎn)品的可靠性設計工作,其他類型的嵌入式計算機可參照使用。
本部分規(guī)定了核電廠儀表和控制系統(tǒng)使用電路板的可靠性及老化檢測方法,包括老化狀態(tài)監(jiān)測及提高可靠性的方法。本部分適用于核電廠儀表和控制系統(tǒng)在役電路板及其備件的可靠性及老化檢測、失效原因分析。
本標準規(guī)定了頻率為13.56 MHz的讀寫器的技術(shù)指標。 本標準適用于單品識別,也可參照ISO/IEC 18000-3,ISO 15693標準使用。
本標準規(guī)定了頻率為2.45 GHz的讀寫器的技術(shù)指標。 本標準適用于單品識別,也可參照ISO/IEC 18000-4標準使用。
本標準規(guī)定了頻率為860~960 MHz的讀寫器的技術(shù)指標。 本標準適用于單品識別,也可參照ISO/IEC 18000-6標準使用。
本標準規(guī)定了頻率為433 MHz的讀寫器的技術(shù)指標。 本標準適用于單品識別,也可參照ISO/IEC 18000-7標準使用。