薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片檢測(cè)

薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片檢測(cè)項(xiàng)目報(bào)價(jià)？??解決方案？??檢測(cè)周期？??樣品要求？

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GB/T 14620-2013薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片的要求、測(cè)試方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存。本標(biāo)準(zhǔn)適用于薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“基片”)的生產(chǎn)和采購(gòu),采用薄膜工藝的片式元件用氧化鋁陶瓷基片也可參照使用。