亚洲av日韩av不卡在线电影-日韩亚洲欧洲中文字幕无-91亚洲视频久久久久区-www日韩中文字幕在线看

歡迎訪問中科光析科學(xué)技術(shù)研究所官網(wǎng)！

實驗室
您的位置：首頁 > 實驗室
    絕緣材料相比漏電起痕指數(shù)（CTI）測定檢測

    絕緣材料相比漏電起痕指數(shù)（CTI）測定檢測

    絕緣材料相比漏電起痕指數(shù)（CTI）測定的重要性 相比漏電起痕指數(shù)（Comparative Tracking Index，CTI）是衡量絕緣材料在潮濕和污染條件下抵抗表面漏電起痕能力的關(guān)鍵參數(shù)，廣泛應(yīng)用于電
    電壓升高率du/dt的測量檢測

    電壓升高率du/dt的測量檢測

    電壓升高率（du/dt）測量的重要性 電壓升高率（du/dt）是指單位時間內(nèi)電壓的變化速率，是衡量電力系統(tǒng)瞬態(tài)特性、設(shè)備耐受能力及電磁兼容性的關(guān)鍵參數(shù)。在高壓電力設(shè)備、電力電子裝置（
    過載試驗(過載性能)檢測

    過載試驗(過載性能)檢測

    過載試驗（過載性能）檢測概述 過載試驗（過載性能檢測）是評估設(shè)備、材料或系統(tǒng)在超出額定負(fù)載條件下能否保持安全運(yùn)行及功能完整性的關(guān)鍵測試手段。該檢測廣泛應(yīng)用于電氣設(shè)備、機(jī)
    數(shù)字集成電路輸入低電平電流檢測

    數(shù)字集成電路輸入低電平電流檢測

    數(shù)字集成電路輸入低電平電流檢測的意義 在數(shù)字集成電路（IC）的設(shè)計與應(yīng)用中，輸入低電平電流（IIL）是衡量器件性能的關(guān)鍵參數(shù)之一。它直接影響電路的功耗、信號穩(wěn)定性以及與其他邏輯
    介電性能試驗（程序I）檢測

    介電性能試驗（程序I）檢測

    介電性能試驗（程序I）檢測概述 介電性能試驗是評估材料在電場作用下絕緣能力和極化特性的重要手段，廣泛應(yīng)用于電力設(shè)備、電子元器件、絕緣材料等領(lǐng)域。程序I作為介電性能試驗的
    防護(hù)等級驗證（IP）檢測

    防護(hù)等級驗證（IP）檢測

    防護(hù)等級驗證（IP）檢測的重要性 防護(hù)等級驗證（IP檢測）是評估電氣設(shè)備、電子元器件或外殼對外界固體異物和液體侵入防護(hù)能力的關(guān)鍵測試項目，廣泛應(yīng)用于戶外照明設(shè)備、工業(yè)設(shè)備、消
京ICP備15067471號-35版權(quán)所有：北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所