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脈沖磁場發(fā)生器檢測項(xiàng)目報價？??解決方案？??檢測周期？??樣品要求？ |
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了工作電壓1 000V(AC）或1 500（DC)以下電子設(shè)備模擬雷擊試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)電路和試驗(yàn)程序。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子設(shè)備的模擬雷擊試驗(yàn)。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了繼電保護(hù)和安全自動裝置的基本試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電力系統(tǒng)二次回路所用有或無繼電器、量度繼電器、保護(hù)裝置、安全自動裝置(保護(hù)裝置和安全自動裝置以下簡稱裝置)及其接口設(shè)備等產(chǎn)品的試驗(yàn)。
GB/T 8423的本部分界定了石油天然氣工業(yè)工程技術(shù)服務(wù)專用的術(shù)語及定義。本部分適用于石油天然氣工程技術(shù)服務(wù)領(lǐng)域，石油天然氣工業(yè)其他領(lǐng)域可參照使用。
GB/T 17626的本部分規(guī)定了電氣和電子設(shè)備遭受直接來自操作者及其操作者對鄰近物體的靜電放電時的抗擾度要求和試驗(yàn)方法，還規(guī)定了不同環(huán)境和安裝條件下試驗(yàn)等級的范圍和試驗(yàn)程序。本部分的目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn)，以評估電氣和電子設(shè)備遭受靜電放電時的性能。此外，它還包括從人體到靠近關(guān)鍵設(shè)備的物體之間可能發(fā)生的靜電放電。本部分的規(guī)定包括：——放電電流的典型波形；——試驗(yàn)等級的范圍；——試驗(yàn)設(shè)備；——試驗(yàn)配置；——試驗(yàn)程序；——校準(zhǔn)程序；——測量不確定度。本部分對“實(shí)驗(yàn)室”試驗(yàn)和“設(shè)備安裝完成后的試驗(yàn)”提出了技術(shù)要求。本部分不對特殊設(shè)備和系統(tǒng)的試驗(yàn)進(jìn)行規(guī)定。其主要目的是為所有有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提供一個通用的基本準(zhǔn)則。有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(或設(shè)備的使用者和制造者)負(fù)責(zé)選擇試驗(yàn)和確定試驗(yàn)條件的嚴(yán)酷等級。為了不妨礙協(xié)調(diào)和標(biāo)準(zhǔn)化的任務(wù)，極力建議有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會或用戶和制造商考慮(在其未來的工作或原標(biāo)準(zhǔn)的修改中)采用本部分中規(guī)定的相關(guān)抗擾度試驗(yàn)。
GB/T 17626的本部分適用于電氣、電子設(shè)備的電磁場輻射抗擾度要求，規(guī)定了試驗(yàn)等級和必要的試驗(yàn)程序。本部分的目的是建立電氣、電子設(shè)備受到射頻電磁場輻射時的抗擾度評定依據(jù)。在本部分中給出的試驗(yàn)方法描述了評估設(shè)備或系統(tǒng)抵抗一定環(huán)境的抗擾度的符合性方法。本部分適用于防止所有發(fā)射源的射頻電磁場的抗擾度試驗(yàn)。特別關(guān)注對防止數(shù)字無線電話和其他射頻發(fā)射裝置的射頻輻射。本部分是一個獨(dú)立的試驗(yàn)方法。不可使用其他試驗(yàn)方法替代來聲稱符合本部分。
GB/T 17626的本部分規(guī)定了在運(yùn)行條件下的設(shè)備主要對下述場所的脈沖磁場騷擾的抗擾度要求:—工業(yè)設(shè)施和發(fā)電廠；—中壓和高壓變電站。本部分的適用性是由安裝在不同地點(diǎn)的設(shè)備,如第3章中所述出現(xiàn)的現(xiàn)象而決定。本部分不考慮在現(xiàn)場設(shè)施的電纜中或其他部分中的容性和感性耦合而引起的騷擾。與此有關(guān)的傳導(dǎo)騷擾在其他EMC標(biāo)準(zhǔn)中考慮。本部分的目的是制定一個具有通用性和重復(fù)性的基準(zhǔn),以評價處于脈沖磁場中的家用、商業(yè)和工業(yè)用電氣和電子設(shè)備的性能。本部分規(guī)定了下列幾項(xiàng):—推薦的試驗(yàn)等級；—試驗(yàn)設(shè)備；—試驗(yàn)配置；—試驗(yàn)程序。
GB/T 17626的本部分規(guī)定了在運(yùn)行條件下的設(shè)備對中壓和高壓變電站中的阻尼振蕩磁場騷擾的抗擾度要求。本部分主要適用于安裝在高壓變電站中的電子設(shè)備。其他可能的應(yīng)用由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會考慮。對安裝在不同地點(diǎn)的設(shè)備，本部分的適用性由第3章中所描述的電磁現(xiàn)象確定。本部分不考慮在電纜中或現(xiàn)場設(shè)備的其他部件中的容性和感性耦合而引起的騷擾。與此有關(guān)的傳導(dǎo)騷擾在其他標(biāo)準(zhǔn)中考慮。本部分的目的是建立一個具有共同性和重復(fù)性的基準(zhǔn)，以評價中壓、高壓變電站中處于阻尼振蕩磁場中的電氣和電子設(shè)備的性能。本部分規(guī)定了以下幾項(xiàng)：——推薦的試驗(yàn)等級；——試驗(yàn)設(shè)備；——試驗(yàn)布置；——試驗(yàn)程序。
GB/T 17626的本部分規(guī)定了與低壓供電網(wǎng)連接的電氣和電子設(shè)備對電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)方法和優(yōu)選的試驗(yàn)等級范圍。本部分適用于額定輸入電流每相不超過16A連接到5OHz或者6OHz交流網(wǎng)絡(luò)的電氣和電子設(shè)備。本部分不適用于與400Hz交流網(wǎng)絡(luò)相連接的電氣和電子設(shè)備。這些網(wǎng)絡(luò)的試驗(yàn)將在以后的標(biāo)準(zhǔn)中涉及。本部分的目的是建立一種評價電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度的通用準(zhǔn)則。GB/T17626 的本部分中所規(guī)定的試驗(yàn)方法為評估設(shè)備或系統(tǒng)對定義的電磁現(xiàn)象的抗擾度表述了一致的方法。正如GB/Z 18509-2001中所述的，這是IEC有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會所用的EMC基礎(chǔ)出版物。也正如GB/Z 18509-2001聲明的，有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會負(fù)責(zé)確定本抗擾度標(biāo)準(zhǔn)是否適用，若適用，則負(fù)責(zé)確定適當(dāng)?shù)脑囼?yàn)等級和性能判據(jù)。電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會和其分委員會準(zhǔn)備與有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會合作，評估用于他們產(chǎn)品的特定抗擾度試驗(yàn)值。
GB/T 17626的本部分規(guī)定了低壓電網(wǎng)（5O Hz）中每相額定電流小于或等于 16A 的電氣和電子設(shè)備對騷擾頻率高至 2kHz 的諧波、諧間波的抗擾度試驗(yàn)方法，并提出了基本試驗(yàn)等級的范圍。 本部分不適用于連接到16<上標(biāo)2/3>Hz或40OHz交流網(wǎng)絡(luò)的電氣和電子設(shè)備，對這些網(wǎng)絡(luò)中的設(shè)備的試驗(yàn)將在其他標(biāo)準(zhǔn)中考慮。 本部分的目的是建立一個共同的基準(zhǔn)，以評價電氣和電子設(shè)備對諧波、諧間波和電網(wǎng)信號頻率的低 頻抗擾性能。本部分中規(guī)定的試驗(yàn)方法是評價電氣和電子設(shè)備對諧波、諧間波和電網(wǎng)信號頻率的抗擾性能的通用方法。GB/Z 18509-2001中詳細(xì)說明本部分是供標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會使用的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)，標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會有權(quán)決定是否使用該抗擾度標(biāo)準(zhǔn)，如果確定使用該標(biāo)準(zhǔn)，則負(fù)責(zé)確定使用的試驗(yàn)等級和性能判據(jù)。GB/Z 18509-2001 也表明電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會或其分委員會將準(zhǔn)備和標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會合作制訂相關(guān)產(chǎn)品特殊抗擾度試驗(yàn)的評價標(biāo)準(zhǔn)。 電氣部件（例如電容器，濾波器等）的可靠性鑒定不屬本部分的范圍，本部分也不考慮長期（超過15分鐘）的熱效應(yīng)。 推薦的試驗(yàn)等級非常適合居住、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境。對重工業(yè)環(huán)境，產(chǎn)品委員會根據(jù)需要的水平負(fù)責(zé)確定等級X，也可能根據(jù)需要規(guī)定更復(fù)雜的波形。不過，建議的簡單波形已經(jīng)在單相網(wǎng)絡(luò)（單相系統(tǒng) 中經(jīng)常出現(xiàn)平頂波）和工業(yè)網(wǎng)絡(luò)（三相系統(tǒng)中經(jīng)常出現(xiàn)尖頂波）中觀測到。
本部分規(guī)定了電氣和/或電子設(shè)備在其所處的電磁環(huán)境下的抗擾度試驗(yàn)。本部分僅考慮傳導(dǎo)現(xiàn)象，包括連接到公用和工業(yè)供電網(wǎng)絡(luò)的設(shè)備的抗擾度試驗(yàn)。 本部分的目的是給出一個基準(zhǔn)，用以評估電氣和電子設(shè)備在遭受正和負(fù)的低幅值電壓波動時的抗擾性能。 本部分所涉及的電壓波動不包括閃爍，它是由燈光亮度波動產(chǎn)生的生理現(xiàn)象。 本部分適用于每相額定電流不大于16A的電氣和/或電子設(shè)備。不適用于連接到直流或400Hz交流配電網(wǎng)絡(luò)的電氣和電子設(shè)備。有關(guān)連接到這些網(wǎng)絡(luò)的設(shè)備的試驗(yàn)在其他的標(biāo)準(zhǔn)中給出。 特殊電磁環(huán)境下要求的抗擾度試驗(yàn)水平及相關(guān)的性能判據(jù)，在適用的產(chǎn)品、產(chǎn)品類或通用標(biāo)準(zhǔn)中給出。但是很多類型的產(chǎn)品對電壓波動不敏感，因此這些設(shè)備不需要進(jìn)行本項(xiàng)試驗(yàn)。
本部分規(guī)定了閃爍測量儀器的功能和設(shè)計規(guī)范，旨在為所有實(shí)際的電壓波動波形顯示正確的閃爍感知電平。本部分列出了組建這樣一種儀器的信息，并給出了基于符合本部分的閃爍儀的輸出結(jié)果來評估閃爍嚴(yán)酷度的方法。本部分有些內(nèi)容是基于電熱聯(lián)盟（UIE)\"騷擾\"工作組的工作，有些內(nèi)容是基于IEEE的工作， 其他內(nèi)容是基于IEC本身的工作。本閃爍儀規(guī)范，涉及輸入為230 V/50 Hz和120 V/60 Hz的測量；對于其他電壓和頻率的規(guī)范正在考慮中。本部分適用于設(shè)計模擬或數(shù)字閃爍測量設(shè)備提供基本信息，并沒有給出閃爍嚴(yán)酷度的容許限值。
GB/T 17626的本部分規(guī)定了電氣、電子設(shè)備在0Hz～150kHz頻率范圍內(nèi),對于共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度的試驗(yàn)要求和方法。 本部分的目的是建立電氣、電子設(shè)備經(jīng)受共模傳導(dǎo)騷擾測試的通用和可重復(fù)性準(zhǔn)則。本部分適用于設(shè)備的電源端口、控制/信號端口和通信端口。 本部分規(guī)定了： ——試驗(yàn)電壓和電流波形； ——試驗(yàn)等級的范圍； ——試驗(yàn)設(shè)備； ——試驗(yàn)布置； ——試驗(yàn)程序。 對一些類型的端口，例如：與高度平衡線相連的端口，需要產(chǎn)品規(guī)范給出額外的試驗(yàn)規(guī)定。 本部分的規(guī)定旨在驗(yàn)證電子、電氣設(shè)備對諸如來自電力線電流和接地系統(tǒng)中的回路泄漏電流等傳導(dǎo)共模騷擾的抗擾性能。 本部分不包括來自于40OHz電力系統(tǒng)所產(chǎn)生的騷擾。由于這些騷擾源造成的實(shí)際干擾相對比較少（工業(yè)環(huán)境除外），因此標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會應(yīng)當(dāng)根據(jù)情況在產(chǎn)品/產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)中判斷采用。（見本部分第4章） 試驗(yàn)不適用于連接長度小于20m的短線纜端口。 本部分的試驗(yàn)適用于電氣和電子設(shè)備或系統(tǒng)。如果EUT（受試設(shè)備）的額定功率大于本部分6要求的試驗(yàn)發(fā)生器的容量，也同樣適用于模塊或子系統(tǒng)。 交流電源端口的諧波和諧間波，以及電源信號的差?？箶_度試驗(yàn)不包括在本部分中，包括在GB/T 17626.13中。 對于有意電磁發(fā)射產(chǎn)生的騷擾抗擾度試驗(yàn)也不包括在本部分中，包括在GB/T 17626.6中。 一些ITU建議，如：K17、K20和K21，已經(jīng)規(guī)定了類似的試驗(yàn)，但是它們適用于在交流電源和電氣化鐵路頻率范圍下的通信端口和電力線感應(yīng)。 標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會應(yīng)當(dāng)在制定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)時，考慮應(yīng)用以上ITU建議。
本部分規(guī)定了電氣和電子設(shè)備的直流電源輸入端口的紋波抗擾度試驗(yàn)方法。 本部分適用于由外部整流系統(tǒng)或正在充電的蓄電池供電的設(shè)備的低壓直流電源端口。 本部分的目的是建立一個通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn)，以在試驗(yàn)室條件下對電力和電子設(shè)備進(jìn)行來自于如整流系統(tǒng)和/或蓄電池充電時疊加在直流電源上的紋波電壓的抗擾度試驗(yàn)。 本部分規(guī)定了： ——試驗(yàn)電壓的波形； ——試驗(yàn)等級范圍； ——試驗(yàn)發(fā)生器； ——試驗(yàn)配置； ——試驗(yàn)程序。 下述的試驗(yàn)要求適用于電氣和電子設(shè)備及系統(tǒng)。當(dāng)受試設(shè)備的額定功率大于第6章中描述的試驗(yàn)發(fā)生器的容量時，本試驗(yàn)也適用于其組件或分系統(tǒng)。 本試驗(yàn)不適用于按開關(guān)模式轉(zhuǎn)換的蓄電池充電系統(tǒng)供電的設(shè)備。 本部分未規(guī)定用于特殊設(shè)備或系統(tǒng)的試驗(yàn)。本部分的主要目的是為有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提供一個一般性的基本依據(jù)。有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(或用戶和制造商)有責(zé)任為其設(shè)備選擇合適的試驗(yàn)項(xiàng)目和嚴(yán)酷等級。 專門的試驗(yàn)程序適用于特殊的電力或電子設(shè)備，如與電話交換中心直流供電網(wǎng)絡(luò)相連的設(shè)備；有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會應(yīng)對本基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)中給出的試驗(yàn)程序的相關(guān)性和適用性作出評價。
GB/T 17626的本部分涉及到電氣和電子設(shè)備在運(yùn)行條件下的抗擾度要求和試驗(yàn)方法，它包括：a) 主要在高壓和中壓(HV/MV)變電站安裝的電源電纜、控制電纜和信號電纜中出現(xiàn)的重復(fù)阻尼振蕩波。b) 主要在氣體絕緣變電站(GIS)和某些情況下的空氣絕緣變電站(AIS)或者由于高空電磁脈沖(HEMP)現(xiàn)象下的任何設(shè)施的電源電纜，控制電纜和信號電纜中出現(xiàn)的重復(fù)阻尼振蕩波。本部分的目的是為了在試驗(yàn)室評價居住、商業(yè)和工業(yè)用電氣和電子設(shè)備的性能而建立抗擾度要求和共同參考，適用時，也可用于發(fā)電廠和變電站設(shè)備。本部分的目的在于規(guī)定：--試驗(yàn)電壓和電流波形；--試驗(yàn)等級范圍；--試驗(yàn)設(shè)備；--試驗(yàn)布置；--試驗(yàn)程序。本部分的目的在于建立一個共同準(zhǔn)則來評價電氣和電子設(shè)備受到阻尼振蕩波時的抗擾度。本部分所規(guī)定的試驗(yàn)方法描述了評定設(shè)備或系統(tǒng)對于定義的電磁現(xiàn)象抗擾度的一致性方法。
GB/T 17626的本部分給出了利用各種TEM波導(dǎo)進(jìn)行電子和電氣設(shè)備發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)的方法。TEM波導(dǎo)有開放式(例如,帶狀線和電磁脈沖(EMP)模擬器)和封閉式(例如,TEM室),還可以進(jìn)一步分為單端口、雙端口和多端口波導(dǎo)。TEM波導(dǎo)的適用頻率范圍取決于具體的試驗(yàn)需求和TEM波導(dǎo)的具體類型。本部分的目的是給出:——TEM波導(dǎo)的性能,包括典型的頻率范圍和對EUT尺寸的限制;——用于電磁兼容(EMC)試驗(yàn)的TEM波導(dǎo)的確認(rèn)方法;——EUT(即EUT殼體和連接電纜)的定義;——在TEM波導(dǎo)中進(jìn)行輻射發(fā)射試驗(yàn)的試驗(yàn)布置、步驟和要求;——在TEM波導(dǎo)中進(jìn)行輻射抗擾度試驗(yàn)的試驗(yàn)布置、步驟和要求。本部分的目的不是規(guī)定適用于任意特定產(chǎn)品或系統(tǒng)的試驗(yàn)方法,而是為所有感興趣的產(chǎn)品委員會提供通用的基礎(chǔ)性參考。對于輻射發(fā)射試驗(yàn),產(chǎn)品委員會應(yīng)參考無線電干擾特別委員會(CISPR)標(biāo)準(zhǔn)選擇發(fā)射限值和試驗(yàn)方法。對于輻射抗擾度試驗(yàn),由產(chǎn)品委員會負(fù)責(zé)對其管轄范圍內(nèi)的設(shè)備選擇合適的試驗(yàn)方法和抗擾度限值。本部分描述的試驗(yàn)方法獨(dú)立于GB/T 17626.3。
GB/T 17626的本部分考慮在混波室中的電氣和/或電子設(shè)備的抗擾度試驗(yàn)、有意或無意輻射發(fā)射試驗(yàn)和屏蔽效能試驗(yàn)。本部分建立了實(shí)施這些試驗(yàn)所需的試驗(yàn)程序。本部分僅考慮輻射現(xiàn)象。本部分的目的是建立一個使用混波室評估電氣和/或電子設(shè)備在射頻電磁場中的性能和確定電氣電子設(shè)備的輻射發(fā)射等級的通用規(guī)范。本部分的目的不是規(guī)定適用于特定設(shè)備或系統(tǒng)的試驗(yàn)方法,而是為所有相關(guān)的產(chǎn)品委員會提供通用的參考基準(zhǔn)。產(chǎn)品委員會應(yīng)咨詢無線電干擾標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會或電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會選擇輻射發(fā)射限值和試驗(yàn)方法。由產(chǎn)品委員會負(fù)責(zé)對其管轄范圍內(nèi)的設(shè)備選擇合適的試驗(yàn)方法和抗擾度限值,也可以采用諸如IEC 61000-4-3、CISPR 16-2-3和CISPR 16-2-4等標(biāo)準(zhǔn)中的其他方法。
GB/T 17626的本部分涉及電子和/或電氣設(shè)備的輻射發(fā)射和輻射抗擾度的測量，規(guī)定了在全電波暗室(FAR)內(nèi)進(jìn)行的輻射發(fā)射和輻射抗擾度的試驗(yàn)程序。本部分規(guī)定了在同一個全電波暗室進(jìn)行輻射發(fā)射測量與輻射抗擾度試驗(yàn)時的通用確認(rèn)程序、受試設(shè)備(EUT)的試驗(yàn)布置要求以及全電波暗室測量方法(詳見附錄A和附錄B)。作為電磁兼容基礎(chǔ)測量標(biāo)準(zhǔn)，本部分對應(yīng)用于具體裝置或系統(tǒng)的抗擾度試驗(yàn)電平或發(fā)射限值不做具體規(guī)定，其主要目標(biāo)是為國內(nèi)相關(guān)產(chǎn)品委員會提供常規(guī)測量程序，而針對產(chǎn)品的具體要求和試驗(yàn)條件由相應(yīng)的產(chǎn)品委員會來規(guī)定。本部分的方法適用于30 MHz~18 GHz頻率范圍內(nèi)的輻射發(fā)射和抗擾度測量。
本部分是EMC（電磁兼容）基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)。它涉及電氣和/或電子裝置（設(shè)備與系統(tǒng)）在其電磁環(huán)境中的抗擾度試驗(yàn)。僅涉及傳導(dǎo)現(xiàn)象，包括連接到公用和工業(yè)網(wǎng)絡(luò)中設(shè)備的抗擾度。 本部分的目的是為電氣和/或電子裝置在受到不平衡的供電電壓時的抗擾度評價建立一個參考。 本部分適用于5OHz三相供電，每相額定線電流16A以下的電氣和/或電子裝置。 如果這個三相設(shè)備是以一組連接在相線與中線間的單相負(fù)載的方式工作的，則本部分不適用于此類以三相加中線的方式連接的設(shè)備。 本部分不適用于連接到交流400Hz配電網(wǎng)絡(luò)中的電氣和/或電子裝置。涉及這些網(wǎng)絡(luò)的試驗(yàn)包括在其他的IEC標(biāo)準(zhǔn)中。 本部分不包括針對零序不平衡因子的試驗(yàn)。 抗擾度試驗(yàn)等級所需要的特殊的電磁環(huán)境及其性能指標(biāo)由該產(chǎn)品、該產(chǎn)品系列或適用的通用標(biāo)準(zhǔn)給出。如果設(shè)備遭受電壓不平衡的供電電壓時性能可能降低，本抗擾度試驗(yàn)應(yīng)該包括在該產(chǎn)品、該產(chǎn)品系列或適用的通用標(biāo)準(zhǔn)中。 電器部件（如電容器、電動機(jī)等）的可靠性驗(yàn)證和長期效應(yīng)（長達(dá)幾分鐘）不在本部分考慮之列。
本部分是EMC（電磁兼容）基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)。它涉及電氣和/或電子設(shè)備在其所處的電磁環(huán)境中的抗擾度試驗(yàn)。本部分僅僅涉及傳導(dǎo)現(xiàn)象，包括連接到公用和工業(yè)網(wǎng)絡(luò)中設(shè)備的抗擾度試驗(yàn)。 本部分的目的是為評價電氣和電子設(shè)備在受到工頻頻率變化時的抗擾度提供依據(jù)。 本部分適用于連接到5OHz配電網(wǎng)絡(luò)中每相額定線電流不超過16A的電氣和/或電子設(shè)備。 本部分不適用于連接到交流40OHz配電網(wǎng)絡(luò)中的電氣和/或電子設(shè)備。該類網(wǎng)絡(luò)的設(shè)備的試驗(yàn)將在其他標(biāo)準(zhǔn)中涉及。 一般來說，電氣和電子設(shè)備對工頻頻率的細(xì)微變化并不敏感。根據(jù)本部分所進(jìn)行的試驗(yàn)只限于被認(rèn)為由于設(shè)計、環(huán)境和缺陷等特性而引起的對工頻頻率變化敏感的產(chǎn)品。 特定電磁環(huán)境中要求的抗擾度試驗(yàn)水平以及性能規(guī)范應(yīng)一并在產(chǎn)品、產(chǎn)品類或適用的通用標(biāo)準(zhǔn)中給出。
GB/T 17626的本部分規(guī)定了在電氣、電子設(shè)備的直流電源輸入端口對電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)方法。 本部分適用于由外部直流網(wǎng)絡(luò)供電的設(shè)備的低電壓直流電源端口。 本部分的目的是建立一種評價直流電氣、電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時中斷和電壓變化時的抗擾度的通用準(zhǔn)則。 本部分規(guī)定了： ——試驗(yàn)等級的范圍； ——試驗(yàn)發(fā)生器； ——試驗(yàn)布置； ——試驗(yàn)程序。 本部分的試驗(yàn)適用于電氣和電子設(shè)備或系統(tǒng)，如果EUT（受試設(shè)備）的額定功率大于第6章要求的試驗(yàn)發(fā)生器的容量，也同樣適用于模塊或子系統(tǒng)。 直流電源輸入端口的紋波不包括在本部分中，它們包括在GB/T 17626.17-2005中。 本部分不適用于特殊的裝置或系統(tǒng)。其主要目的是對有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提供通用的和基礎(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)委員（或用戶和設(shè)備制造商）仍有責(zé)任選擇適合其設(shè)備的試驗(yàn)和嚴(yán)酷度等級。
