六硼化鑭檢測(cè)

六硼化鑭檢測(cè)項(xiàng)目報(bào)價(jià)？??解決方案？??檢測(cè)周期？??樣品要求？

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GB/T 23414-2009微束分析.掃描電子顯微術(shù).術(shù)語(yǔ)

本標(biāo)準(zhǔn)定義了掃描電子顯微術(shù)(SEM)實(shí)踐中使用的術(shù)語(yǔ)。包括一般術(shù)語(yǔ)和按技術(shù)分類的具體概念的術(shù)語(yǔ)，也包括已經(jīng)在ISO 23833中定義的術(shù)語(yǔ)。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于所有有關(guān)SEM實(shí)踐的標(biāo)準(zhǔn)化文件。另外，本標(biāo)準(zhǔn)的某些術(shù)語(yǔ)定義，也適用于相關(guān)領(lǐng)域的文件〔例如:電子探針顯微分析(EPMA)、分析電子顯微術(shù)(AEM)、能譜法(EDX)等〕。

GB/T 25187-2010表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜.選擇儀器性能參數(shù)的表述

本標(biāo)準(zhǔn)表述了如何描述一臺(tái)俄歇電子能譜儀的特定性能。

GB/T 30067-2013金相學(xué)術(shù)語(yǔ)

本標(biāo)準(zhǔn)界定了金相學(xué)和金相檢驗(yàn)及其相關(guān)領(lǐng)域的術(shù)語(yǔ),主要涵蓋了光學(xué)顯微術(shù)、顯微壓痕硬度測(cè)試、樣品制備、X-射線和電子金相學(xué)、定量金相學(xué)、顯微攝影術(shù)、晶粒尺寸和夾雜物含量的測(cè)定等金相學(xué)領(lǐng)域中廣泛使用的專有名詞。本標(biāo)準(zhǔn)適用于金相學(xué)領(lǐng)域中的科研、生產(chǎn)、檢驗(yàn)、教學(xué)、出版、編制標(biāo)準(zhǔn)及國(guó)內(nèi)外科技交流。

GB/T 30543-2014納米技術(shù) 單壁碳納米管的透射電子顯微術(shù)表征方法

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了單壁碳納米管的透射電子顯微術(shù)表征形貌的方法,及識(shí)別單壁碳納米管樣品中其他材料元素組成的能譜法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于檢測(cè)單壁碳納米管的基本結(jié)構(gòu),包括形貌、缺陷、直徑分布、管束大小和取向、結(jié)晶情況,以及元素組分和手性分析等。

GB/T 30815-2014表面化學(xué)分析 分析樣品的制備和安裝方法指南

本標(biāo)準(zhǔn)提供了表面化學(xué)分析樣品安裝和表面處理方法的指導(dǎo)。目的是幫助分析人員理解在使用俄歇電子能譜、二次離子質(zhì)譜和X射線光電子能譜等表面分析技術(shù)進(jìn)行分析時(shí),所必需的專門樣品處理?xiàng)l件。

GB/T 32869-2016納米技術(shù) 單壁碳納米管的掃描電子 顯微術(shù)和能量色散X射線譜表征方法

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用SEM和EDX分析單壁碳納米管粗產(chǎn)品及純化后粉末或薄膜產(chǎn)品的形態(tài)、元素組成、催化劑和其他無(wú)機(jī)雜質(zhì)的測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于單壁碳納米管的特性分析，亦可用于多壁碳納米管(multiwall carbon nanotubes，簡(jiǎn)稱MWCNTs)的特性分析。

GB/T 33834-2017微束分析 掃描電子顯微術(shù) 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了生物試樣掃描電子顯微鏡分析的技術(shù)要求和規(guī)范。本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類型的掃描電子顯微鏡。

SJ/T 10458-1993俄歇電子能譜術(shù)和X射線光電子能譜術(shù)的樣品處理標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則

本標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則適用于俄歇電子能譜術(shù)(AES)和X射線光電子能譜術(shù)(XPS)，也適用于其他表面靈敏分析技術(shù)。 本標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則可能涉及有害的操作、設(shè)備及物質(zhì)，但沒(méi)有說(shuō)明所有相關(guān)的安全問(wèn)題。使用者在使用本導(dǎo)則前，應(yīng)該制定適當(dāng)?shù)陌踩c保健措施，并確定本導(dǎo)則的應(yīng)用范圍。

SJ/T 10584-1994微電子學(xué)光掩蔽技術(shù)術(shù)語(yǔ)

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微電子學(xué)光掩蔽技術(shù)的有關(guān)術(shù)語(yǔ)。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于黴電子學(xué)光掩蔽技術(shù)的科研、生產(chǎn)、教學(xué)、貿(mào)易和技術(shù)交流。

XB/T 501-2020六硼化鑭

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了六硼化鑭產(chǎn)品的要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則與標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存及質(zhì)量證明書(shū)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于以碳化硼(或純硼)還原氧化鑭等方法制得的六硼化鑭粉末、經(jīng)熱壓及電弧法制得的六硼化鑭，主要用于陰極發(fā)射材料，應(yīng)用于電子顯微鏡、電子束焊接、放電管等領(lǐng)域。

XB/T 601.1-2008六硼化鑭化學(xué)分析方法.硼量的測(cè)定.酸堿滴定法

本部分規(guī)定了六硼化鑭中硼含量的測(cè)定方法。本部分適用于六硼化鑭硼含量的測(cè)定，測(cè)定范圍：20.00%～40.00%。

XB/T 601.2-2008六硼化鑭化學(xué)分析方法.鐵、鈣、鎂、鉻、錳、銅量的測(cè)定.電感耦合等離子體發(fā)射光譜法

本部分規(guī)定了六硼化鑭中鐵、鈣、鎂、鉻、錳、銅含量的測(cè)定方法。本部分適用于六硼化鑭中鐵、鈣、鎂、鉻、錳、銅含量的測(cè)定，測(cè)定范圍見(jiàn)表1。

XB/T 601.3-2008六硼化鑭化學(xué)分析方法.鎢量的測(cè)定.電感耦合等離子體發(fā)射光譜法

本部分規(guī)定了六硼化鑭中鎢含量的測(cè)定方法。本部分適用于六硼化鑭中鎢含量的測(cè)定。測(cè)定范圍：0.0010%～0.10%。

XB/T 601.4-2008六硼化鑭化學(xué)分析方法.碳量的測(cè)定.高頻感應(yīng)燃燒紅外線吸收法測(cè)定

本部分規(guī)定了六硼化鑭中碳含量的測(cè)定方法。本部分適用于六硼化鑭中碳含量的測(cè)定。測(cè)定范圍：0.015%～1.00%。

XB/T 601.5-2008六硼化鑭化學(xué)分析方法.酸溶硅量的測(cè)定.硅鉬藍(lán)分光光度法

本部分規(guī)定了六硼化鑭酸溶硅含量的測(cè)定方法。本部分適用于六硼化鑭酸溶硅含量的測(cè)定。測(cè)定范圍：0.0020%～0.10%。