鹽霧試驗設(shè)備檢測

鹽霧試驗設(shè)備檢測項目報價？??解決方案？??檢測周期？??樣品要求？

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GB/T 1094.6-2011電力變壓器 第6部分:電抗器

GB 1094的本部分適用于下列電抗器：——并聯(lián)電抗器；——串聯(lián)電抗器，包括限流電抗器、中性點接地電抗器、功率控制電抗器、電動機啟動電抗器和電弧爐串聯(lián)電抗器；——濾波(調(diào)諧)電抗器；——電容器阻尼電抗器；——電容器放電電抗器；——接地變壓器(中性點耦合器)；——消弧線圈；——高壓直流輸電和工業(yè)用平波電抗器。但下列電抗器除外：——額定容量小于1 kvar的單相電抗器和額定容量小于5 kvar的三相電抗器；——各種專用電抗器，例如：高頻的線路阻波器或安裝于鐵道車輛上的電抗器。若小型電抗器或?qū)Ｓ秒娍蛊鳠o相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)時，本部分的全部或部分內(nèi)容可適用。

GB/T 1444-2008防爆燈具專用螺口式燈座

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了防爆燈具專用螺口式燈座的型式、基本參數(shù)和尺寸、結(jié)構(gòu)和材料和試驗的要求和檢驗程序。本標(biāo)準(zhǔn)適用于爆炸性環(huán)境中增安型和無火花型防爆燈具專用的防爆燈具專用螺口式燈座（以下簡稱燈座）。

GB/T 1984-2014高壓交流斷路器

本標(biāo)準(zhǔn)適用于設(shè)計安裝在戶內(nèi)或戶外且運行在頻率50 Hz、電壓為3 000 V及以上的系統(tǒng)中的交流斷路器。本標(biāo)準(zhǔn)僅適用于三相系統(tǒng)中的三極斷路器和單相系統(tǒng)中的單極斷路器。用于單相系統(tǒng)中的兩極斷路器及用于頻率低于50 Hz時應(yīng)遵從制造廠和用戶之間的協(xié)議。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于斷路器的操動機構(gòu)和其輔助設(shè)備。然而,本標(biāo)準(zhǔn)不涉及僅依靠人力操動合閘機構(gòu)的斷路器,因為它不能規(guī)定額定短路關(guān)合電流,而且從安全的角度考慮,這種僅靠人力操作的方式是不應(yīng)該提倡的。具有預(yù)定的極間不同期性的斷路器見GB/T 30846 — 2014;具有單極自動重合閘功能的斷路器包含在本標(biāo)準(zhǔn)的范圍內(nèi)。本標(biāo)準(zhǔn)不涉及用于電力牽引設(shè)備的移動電站中的斷路器,它們包含在IEC 60077[1]<上標(biāo)1)>中。安裝在發(fā)電機和升壓變壓器之間的發(fā)電機斷路器也不包含在本標(biāo)準(zhǔn)的范圍內(nèi)。感性負載開合包含在GB/T 29489—2013中。涉及具有機械脫扣裝置或不能失效的裝置的自脫扣斷路器可參照本標(biāo)準(zhǔn)。與線路串聯(lián)電容器及其保護設(shè)備并聯(lián)作為旁路開關(guān)的斷路器不包含在本標(biāo)準(zhǔn)的范圍內(nèi)。它們包含在 GB/T 28565—2012 和 IEC 60143-2[3]中。

GB/T 2423.3-2016環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗

GB/T 2423的本部分規(guī)定了確定元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運輸時適應(yīng)性的試驗方法。本部分的目的是用于確定規(guī)定時間內(nèi)恒定溫度、無凝露的高濕環(huán)境對試驗樣品的影響。本部分適用于小型設(shè)備或元件，也適用于大型設(shè)備，同時適用于散熱和非散熱試驗樣品。

GB/T 2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分: 試驗方法.試驗Ka:鹽霧

本標(biāo)準(zhǔn)適用于比較具有相似結(jié)構(gòu)的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力。本試驗也適用于評定保護性涂層的質(zhì)量以及均勻性。使用時，應(yīng)考慮以下的限制:a)本試驗不適合作為通用的鹽霧腐蝕試驗；b)本試驗也不適用于在含鹽大氣中使用的單個試樣的評定。對于設(shè)備以及零部件，試驗Kb提供了更符合實際情況的試驗條件以及單個試樣的評定方法。但如果某些情況下為了確保質(zhì)量，相關(guān)規(guī)范要求個別試樣采用本試驗方法時，試樣應(yīng)當(dāng)作為整個組件或者設(shè)備的組成部分連同實際的保護性設(shè)備（箱體、蓋子、外套等）一起進行試驗。

GB/T 2423.19-2013環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗

本試驗:--為評價二氧化硫污染大氣對接觸點和連接件的腐蝕作用提供了一種加速試驗方法;--尤其適用于作對比試驗;--不能作為常規(guī)腐蝕試驗。即,它可能無法預(yù)測接觸點和連接件在工業(yè)大氣中的腐蝕行為。本試驗的目的是:a)確定含二氧化硫的氣體對貴金屬或貴金屬鍍層的接觸點和連接件的接觸性能的影響,不包括銀和某些銀合金組成的元件。b)檢驗無焊料連接件的牢固性及有效性。在所有試驗中,連接件暴露于二氧化硫試驗氣體中而引起其接觸電阻的變化可作為主要的性能判據(jù)。

GB/T 2423.20-2014環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗

本試驗:--為評價用于接觸點和連接件的銀和銀合金變色提供了一種加速試驗方法;--尤其適用于作對比試驗;--不宜作為通用腐蝕試驗,即它可能無法預(yù)測接觸點和連接件在工業(yè)大氣中的腐蝕行為。本試驗的目的是:a) 確定含硫化氫的大氣對下面材料制成的接觸點和連接件的接觸特性的影響:--銀或銀合金;--有其他保護層的銀;--用銀或銀合金覆蓋的金屬。b) 檢查用上述材料做成的無焊料連接件的緊密性和有效性。在所有試驗中,主要根據(jù)試驗樣品在含有硫化氫大氣中暴露所引起的接觸電阻的變化值進行性能評價。

GB/T 2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗M:低氣壓

本部分適用于室溫條件下的低氣壓試驗。本試驗的目的是用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應(yīng)性。

GB/T 2423.22-2012環(huán)境試驗.第2部分：試驗方法.試驗N：溫度變化

GB/T 2423的本部分規(guī)定的試驗用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時間取決于試驗樣品的特性。

GB/T 2423.23-2013環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Q:密封

GB/T 2423的本部分規(guī)定了各種密封性能試驗方法。試驗Qa、Qc是粗檢,觀察從漏隙中冒出的氣泡;試驗Qd是在加溫條件下觀察液體的滲漏;試驗Qy是在降壓的條件下使氣體通過漏隙進入試驗箱,然后測量試驗箱的性能變化;試驗Qk、Qm是用示蹤氣體檢測細漏;試驗Qf、Ql是在加壓條件下使液體通過漏隙進入其中,然后測量其性能變化。本部分適用于檢測各種電工電子產(chǎn)品的密封性能,也適用于其他密封零部件的密封性檢測。

GB/T 2423.30-2013環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬

GB/T 2423的本部分適用于在規(guī)定的溫度下、規(guī)定的時間內(nèi),將試驗樣品浸漬在清洗溶劑中的試驗。如果有關(guān)規(guī)范有要求,在浸漬和干燥以后試驗樣品應(yīng)該用脫脂棉或薄卷紙擦拭。本試驗的導(dǎo)則見附錄A。

GB/T 2423.34-2012環(huán)境試驗.第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗

GB/T 2423的本部分提供了一種組合試驗方法，主要用于元器件類試驗樣品，以加速方式來確定試驗樣品在高溫/高濕和低溫條件惡劣作用下的耐受性能。

GB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L:沙塵試驗

本部分規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產(chǎn)品的影響的試驗方法。 本試驗方法不適用于檢測空氣過濾器。只有試驗方法Lc2適用于模擬高速粒子（大于100m/s）的腐蝕效應(yīng)。

GB/T 2423.40-2013環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

GB/T 2423的本部分規(guī)定了一種以加速方式評定小型電工電子產(chǎn)品(主要是非氣密元件)耐濕熱劣化效應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法。本試驗不適用于評定如腐蝕和變形等外部效應(yīng)。

GB/T 2423.41-2013環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 風(fēng)壓

GB/T 2423的本部分規(guī)定了電工電子產(chǎn)品利用風(fēng)洞進行風(fēng)壓試驗的術(shù)語、對試驗設(shè)備和試驗樣品(以下簡稱試驗件)的要求、試驗條件和試驗方法。本部分適用于檢驗安裝在戶外的電工電子設(shè)備或部件(如雷達天線、微波天線、衛(wèi)星天線等)承受風(fēng)壓時的適應(yīng)性及評定其結(jié)構(gòu)的合理性。本部分不適用于固定電工電子設(shè)備或部件的塔架。

GB/T 2423.45-2012環(huán)境試驗.第2部分：試驗方法 試驗Z/ABDM：氣候順序

GB/T 2423的本部分給出了確定試驗樣品在承受依次由溫度、濕熱和低氣壓(必要時)等環(huán)境應(yīng)力組成的環(huán)境條件時的環(huán)境適應(yīng)性的一種標(biāo)準(zhǔn)的組合試驗方法。 施加應(yīng)力的次序與試驗步驟轉(zhuǎn)換時的環(huán)境條件已經(jīng)選定,以便加速并強化與自然氣候條件相同的劣化機理。 當(dāng)劣化機理相同且滿足規(guī)定的試驗要求時,本部分也可作為編寫類似試驗方法的基礎(chǔ)。 在本試驗中,試驗樣品按標(biāo)準(zhǔn)順序接受環(huán)境試驗,并按GB/T 2421.1—2008附錄A 規(guī)定的代號分類,只是第3組數(shù)字用于表示第5步:交變濕熱試驗Db的周期數(shù)(見GB/T 2423.4—2008第5章)。在本部分中,-/-/56、40/-/-等氣候類型中的短劃線可用55/100/56、25/085/56、40/085/21等組合中適合于該位置的任何標(biāo)準(zhǔn)值代替,如需要改變,有關(guān)規(guī)范應(yīng)為所選試驗方法的每個步驟提供所需的資料(見第8章)。 本試驗常被安排在與機械應(yīng)力有關(guān)的其他試驗如端子強度試驗、可焊性試驗和振動試驗之后進行,以作為確定試驗樣品的密封性是否損壞的方法。

GB/T 2423.50-2012環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗

GB/T 2423的本部分規(guī)定了一種以加速方式評價小型電工電子產(chǎn)品(主要是非氣密元件)耐濕熱劣化效應(yīng)的試驗方法。本試驗不適用于評價諸如腐蝕和變形等外部效應(yīng)。

GB/T 2423.59-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗.Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合

GB/T 2423的本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合試驗的基本要求、嚴(yán)酷等級、試驗程序以及其他技術(shù)細則。本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）、低氣壓和振動（隨機）綜合作用下的適應(yīng)性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。

GB/T 2423.60-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗U:引出端及整體安裝件強度

GB/T 2423的本部分適用于在正常裝配或修理過程中其引出端或整體安裝件可能受到應(yīng)力的所有電工電子元器件。

GB/T 2424.10-2012環(huán)境試驗 大氣腐蝕加速試驗的通用導(dǎo)則

GB/T 2424的本部分給出了大氣腐蝕加速試驗條件、方法的適用可能性及各種加速試驗的應(yīng)用導(dǎo)則。本部分適用于為電工電子設(shè)備或元器件產(chǎn)品編制大氣腐蝕加速試驗方法標(biāo)準(zhǔn)、試驗大綱及進行人工加速腐蝕試驗的指南，供編制大氣腐蝕加速試驗方法標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)程及進行人工加速腐蝕試驗時參考。