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本方法適用于生長半導體器件及電路用硅外延片、多晶硅和光通訊器件用光纖予制件的高純四氯化硅中磷含量的測試方法。
本標準規(guī)定了衫(Sm)-釹(Nd)同位素地質(zhì)年齡和釹(Nd)同位素比值的測定方法。\t本標準適用于全巖、單礦物Sm-Nd同位素地質(zhì)年齡及Nd同位素比值的測定。