GB/T 36401-2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告

GB/T 36401-2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告

　　Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of results of thin-film analysis

　　標準 推薦性 現(xiàn)行標準《表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告》由TC38(微束分析標準化技術委員會)歸口上報，TC38SC2(微束分析標準化技術委員會表面化學分析分會)執(zhí)行，主管部門為標準化管理委員會。

GB/T 36401-2018主要起草單位

廈門荷清教育咨詢有限公司 、清華大學化學系 。

GB/T 36401-2018主要起草人

湯丁亮 、李展平 、岑丹霞 、姚文清 、劉芬 、王水菊 。

GB/T 36401-2018采標情況

　　本標準等同采用ISO標準：ISO 13424:2013。

　　采標中文名稱:表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告。

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