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400-635-0567Method for chemical analysis of high purity silver—Determination of trace impurity elements contents—Glow discharge mass spectrometry
標(biāo)準(zhǔn) 推薦性 現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)《高純銀化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測定 輝光放電質(zhì)譜法》由TC243(有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口上報,TC243SC5(有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會貴金屬分會)執(zhí)行,主管部門為中國有色金屬工業(yè)協(xié)會。
國標(biāo)(北京)檢驗認(rèn)證有限公司 、安徽華晶微電子材料科技有限公司 、金川集團(tuán)股份有限公司 、峨眉山市峨半高純材料有限公司 。
李娜 、張金娥 、張玲 、劉英 、劉紅 、李愛嫦 、楊復(fù)光 、張曉 、程平 、邱平 、孫平 、詹科 。
20142685-T-610 高純銀化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測定 輝光放電質(zhì)譜法
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