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400-635-0567Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
標(biāo)準(zhǔn) 推薦性 即將實(shí)施標(biāo)準(zhǔn)《非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型測(cè)試方法》由TC203(半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì))歸口上報(bào),TC203SC2(半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)材料分會(huì))執(zhí)行,主管部門(mén)為標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)。
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